三箱冷熱沖擊箱是一種測(cè)試設(shè)備，用于模擬產(chǎn)品在惡劣溫度條件下的使用和存儲(chǔ)情況。三箱冷熱沖擊箱包括三個(gè)部分：高溫箱、低溫箱和樣品測(cè)試箱。
高溫箱可以將溫度升至+150℃，用于測(cè)試產(chǎn)品的高溫抗性和熱穩(wěn)定性。低溫箱則可以將溫度降至-70℃，用于測(cè)試產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的耐寒性和防脆弱性。
樣品測(cè)試箱是用來(lái)放置待測(cè)試物品的區(qū)域，溫度范圍通常為-40℃至+100℃，并且可以進(jìn)行快速溫度轉(zhuǎn)換。在測(cè)試過(guò)程中，樣品測(cè)試箱會(huì)根據(jù)測(cè)試要求不斷進(jìn)行升溫或降溫，以模擬產(chǎn)品在惡劣溫度環(huán)境下的實(shí)際使用情況。
三箱冷熱沖擊箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GJB150.3A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GJB 150.5A-2009 軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB367.2-1987 軍通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
性能參數(shù):
1、試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)有以下:
AP-CJ-50 內(nèi)部尺寸50L:36cm×35cm×40cm(HxD)備注：外尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。
AP-CJ-80 內(nèi)部尺寸50L:50cm×40cm×40cm(HxD)備注：外尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。
AP-CJ-150 內(nèi)部尺寸150L:60cm×50cm×50cm(HxD)備注：外尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。
AP-CJ-250 內(nèi)部尺寸250L:70cm×60cm×60cm(HxD)備注：外尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。
AP-CJ-1000 內(nèi)部尺寸1000L:100cm×100cm×100cm(HxD)備注：外尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)。
2、沖擊可選溫度范圍：(A：低溫-40℃～高溫+150℃；B：低溫-55℃～高溫+150℃；C：低溫-65℃～高溫+150℃；)
3、高溫儲(chǔ)溫區(qū)zui高可以儲(chǔ)存高溫至：+60℃～+200℃
4、低溫儲(chǔ)溫區(qū)zui低可以儲(chǔ)存低溫至：-10℃～-75℃
5、高溫儲(chǔ)溫區(qū)升溫時(shí)間(儲(chǔ)熱區(qū)) ：約RT～200℃需40min(滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn))
6、高溫儲(chǔ)溫區(qū)降溫時(shí)間(儲(chǔ)冷區(qū)) ：約RT～-70℃需90min(滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn))
7、樣品測(cè)試區(qū)溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min內(nèi)；快速轉(zhuǎn)換時(shí)間： ≤10sec內(nèi)(如需更快請(qǐng)下單時(shí)注明)
8、高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱|高低溫循環(huán)沖擊箱|高低溫沖擊箱溫度控制精度±0.5℃；分布精度：±2.0℃
9、內(nèi)外部材質(zhì)：內(nèi)箱為SUS 304#不銹鋼板霧面處理，具有良好的耐蝕性、耐熱性，低溫強(qiáng)度和機(jī)械特性；沖壓、彎曲等熱加工性好，無(wú)熱處理硬化現(xiàn)象(無(wú)磁性，使用溫度-196℃～800℃)
特點(diǎn)：
測(cè)試箱外形設(shè)計(jì)美觀、結(jié)構(gòu)分布合理、工藝水平較*、選材慎重，具有簡(jiǎn)單易懂的操作功能和*的設(shè)備性能。
2.測(cè)試箱分為測(cè)試箱、蓄熱箱及蓄冷箱三部分，采用3~5分鐘快速變溫沖擊效果，測(cè)試時(shí)測(cè)試物*靜止，應(yīng)用高低溫的冷熱箱蓄溫箱之間的風(fēng)路切換方式將高溫，低溫快速導(dǎo)入測(cè)試箱實(shí)現(xiàn)高低溫沖擊測(cè)試目的。
3.匹配高精度的計(jì)測(cè)裝置, 控制器為觸摸屏大型真彩液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作方便, 使用容易, 性能穩(wěn)定，質(zhì)量可靠，可以隨意選擇中、英文的操作系統(tǒng)、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
4.具約100個(gè)測(cè)試規(guī)范可獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999(h)59(min), 1~999次循環(huán)周期可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，減輕操作人員工作量，zui大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行。
5.測(cè)試箱可以根據(jù)客戶要求開(kāi)具直徑為50mm或100mm的測(cè)試孔，可供產(chǎn)品通電或者計(jì)量探頭用。
6.可單獨(dú)設(shè)定低溫、高溫或高低溫沖擊沖擊三種不同的試驗(yàn)條件做測(cè)試，還可以設(shè)定高溫至常溫再到低溫或者低溫至常溫再到高溫的特殊測(cè)試條件，還具備普通高低溫實(shí)驗(yàn)箱的測(cè)試功能。
7.具備高精密、全自動(dòng)系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高。
8.*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度分布均勻，波動(dòng)度小，避免任何死角！完備的設(shè)備自我安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生的安全隱患，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。
9.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)(手動(dòng))除霜。
10.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測(cè)控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為3秒內(nèi)完成，高低溫沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成(滿足對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范)。
11.低溫制冷系統(tǒng)采用復(fù)疊式高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美*泰康或壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(杜邦)制冷劑。
產(chǎn)品型號(hào)
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